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Testverfahren für Mikrosysteme
Description
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Methoden zur Prüfung der Qualität, Genauigkeit und Leistung von Mikrosystemen und mikroelektronischen mechanischen Systemen (MEMS) und deren Materialien und Komponenten vor, während und nach der Herstellung der Systeme, z. B. parametrische Tests und Burn-in-Tests.
Alternative Bezeichnung
Prüfverfahren für Mikrosysteme
Art der Fähigkeit
Kenntnisse
Maß an Wiederverwendbarkeit
branchenspezifische Fähigkeiten und Kompetenzen
Beziehungen
Allgemeine Fähigkeiten/Kompetenzen
Grundlegende Fähigkeit/Kompetenz in
URL des Konzepts
Status
released
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