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Testverfahren für Mikrosysteme entwickeln
Description
Description
Entwickeln von Testprotokollen wie parametrischen Tests und Burn-in-Tests, um eine Vielzahl von Analysen mikroelektronischer mechanischer Systeme (MEMS), Produkte und Komponenten vor, während und nach dem Aufbau des Mikrosystems zu ermöglichen.
Art der Fähigkeit
Fähigkeit
Maß an Wiederverwendbarkeit
branchenspezifische Fähigkeiten und Kompetenzen
Beziehungen
Allgemeine Fähigkeiten/Kompetenzen
Grundlegende Fähigkeit/Kompetenz in
Fakultative Fähigkeit/Kompetenz in
Fakultative Kenntnisse
URL des Konzepts
Status
released