Skip to main content
There is a temporary issue on this page. Please, try later. We apologise for this inconvenience.

Show filters

Hide filters

Filters

Hierarchy view

mikrosistemų bandymų procedūros

Description

Description

Mikrosistemų ir mikroelektromechaninių sistemų (angl. MEMS) bei jų medžiagų ir komponentų kokybės, tikslumo ir veikimo tikrinimo metodai, taikomi prieš kuriant sistemas, kūrimo metu ir jas sukūrus, kaip antai parametriniai bandymai ir apkrovos bandymai.

Alternatyvi etiketė

mikroskopinių sistemų bandymų tvarka